Size effects on yield strength and strain hardening for ultra-thin Cu films with and without passivation: A study by synchrotron and bulge test techniques
Gruber, P. A.; Böhm, J.; Onuseit, F.; Wanner, A.
1; Spolenak, R.; Arzt, E.
1 Institut für Angewandte Materialien – Werkstoffkunde (IAM-WK), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Spolenak, R.; Arzt, E.1 Institut für Angewandte Materialien – Werkstoffkunde (IAM-WK), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Maschinenbau – Institut für Werkstoffkunde I (IWK I) Institut für Angewandte Materialien – Werkstoffkunde (IAM-WK) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2008 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 1359-6454, 1873-2453 KITopen-ID: 1000023360 |
| Erschienen in | Acta materialia |
| Verlag | Elsevier |
| Band | 56 |
| Heft | 10 |
| Seiten | 2318-2335 |