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X-ray analysis of steep residual stress gradients: The 20 derivative method

Erbacher, T.; Wanner, A.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Werkstoffkunde I (IWK I)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2008
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1862-5282
KITopen ID: 1000023381
Erschienen in International Journal of Materials Research
Band 2008
Heft 10
Seiten 1071-1078
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