X-ray analysis of steep residual stress gradients: The 2θ-derivative method
Erbacher, T.; Wanner, A.
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1 Institut für Angewandte Materialien – Werkstoffkunde (IAM-WK), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
11 Institut für Angewandte Materialien – Werkstoffkunde (IAM-WK), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Maschinenbau – Institut für Werkstoffkunde I (IWK I) Institut für Angewandte Materialien – Werkstoffkunde (IAM-WK) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2008 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0044-3093, 1862-5282, 2195-8556 KITopen-ID: 1000023381 |
| Erschienen in | International journal of materials research |
| Verlag | Carl Hanser Verlag |
| Band | 99 |
| Heft | 10 |
| Seiten | 1071-1078 |