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Characterisation and testing of micro specimen

Beck, T.; Schneider, J. ORCID iD icon; Schulze, V.


Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Maschinenbau – Institut für Werkstoffkunde I (IWK I)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2004
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0946-7076
KITopen-ID: 1000023641
Erschienen in Microsystem Technologies
Verlag Springer
Band 10
Heft 3
Seiten 227-232
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