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Characterisation and testing of micro specimen

Beck, T.; Schneider, J.; Schulze, V.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Werkstoffkunde I (IWK I)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2004
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0946-7076
KITopen ID: 1000023641
Erschienen in Microsystem Technologies
Band 10
Heft 3
Seiten 227-232
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