Tensile Testing of Ultrathin Polycrystalline Films: A New Synchrotron-based Technique
Böhm, J.; Gruber, P.; Spolenak, R.; Stierle, A.; Wanner, A.
; Arzt, E.
; Arzt, E.| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Maschinenbau – Institut für Werkstoffkunde I (IWK I) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2004 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0034-6748 KITopen-ID: 1000023646 |
| Erschienen in | Review of Scientific Instruments |
| Verlag | American Institute of Physics (AIP) |
| Band | 75 |
| Heft | 4 |
| Seiten | 1110-1119 |