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Tensile Testing of Ultrathin Polycrystalline Films: A New Synchrotron-based Technique

Böhm, J.; Gruber, P.; Spolenak, R.; Stierle, A.; Wanner, A. ORCID iD icon 1; Arzt, E.
1 Institut für Angewandte Materialien – Werkstoffkunde (IAM-WK), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Maschinenbau – Institut für Werkstoffkunde I (IWK I)
Institut für Angewandte Materialien – Werkstoffkunde (IAM-WK)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2004
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0034-6748, 1527-2400, 1089-7623
KITopen-ID: 1000023646
Erschienen in Review of scientific instruments
Verlag American Institute of Physics (AIP)
Band 75
Heft 4
Seiten 1110-1119
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