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Tensile Testing of Ultrathin Polycrystalline Films: A New Synchrotron-based Technique

Böhm, J.; Gruber, P.; Spolenak, R.; Stierle, A.; Wanner, A.; Arzt, E.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Werkstoffkunde I (IWK I)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2004
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0034-6748
KITopen ID: 1000023646
Erschienen in Review of Scientific Instruments
Band 75
Heft 4
Seiten 1110-1119
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