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A New Synchrotron-based Technique for Measuring Stresses in Ultrathin Metallic Films

Böhm, J.; Gruber, P.; Spolenak, R.; Wanner, A.; Arzt, E.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Werkstoffkunde I (IWK I)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2004
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 1-558-99771-7
ISSN: 0272-9172
KITopen ID: 1000023651
Erschienen in Nanoscale materials and modeling - relations among processing, microstructure and mechanical properties, San Francisco, California, USA, April 13 - 16, 2004. Ed.: P. M. Anderson
Verlag Materials Research Soc., Warrendale (PA)
Seiten P1.61-P1.66
Serie Materials Research Society symposium proceedings ; 821
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