A New Synchrotron-based Technique for Measuring Stresses in Ultrathin Metallic Films
Böhm, J.; Gruber, P.; Spolenak, R.; Wanner, A.
; Arzt, E.
; Arzt, E.| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Maschinenbau – Institut für Werkstoffkunde I (IWK I) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2004 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 1-558-99771-7 ISSN: 0272-9172 KITopen-ID: 1000023651 |
| Erschienen in | Nanoscale materials and modeling - relations among processing, microstructure and mechanical properties, San Francisco, California, USA, April 13 - 16, 2004. Ed.: P. M. Anderson |
| Verlag | Materials Research Soc. |
| Seiten | P1.61-P1.66 |
| Serie | Materials Research Society symposium proceedings ; 821 |