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Size Effect on Crack Formation in Cu/Ta and Ta/Cu/Ta Thin Film Systems

Gruber, P.; Böhm, J.; Wanner, A.; Sauter, L.; Spolenak, R.; Arzt, E.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Werkstoffkunde I (IWK I)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2004
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 1-55899-771-7
ISSN: 0272-9172
KITopen ID: 1000023652
Erschienen in Nanoscale materials and modeling - relations among processing, microstructure and mechanical properties, San Francisco, California, USA, April 13 - 16, 2004. Ed.: P. M. Anderson
Verlag Materials Research Soc., Warrendale (PA)
Seiten P2.7.1-P2.7.7
Serie Materials Research Society symposium proceedings ; 821
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