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Ortsaufgelöste Messung mikrotribologischer Eigenschaften mehrphasiger Oxidkeramiken mit der Rastersondenmikroskopie

Ziebert, C.; Zum Gahr, K.-H.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung (IMF)
Institut für Werkstoffkunde II (IWK II)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2004
Sprache Deutsch
Identifikator ISSN: 0933-5137
KITopen-ID: 1000024120
HGF-Programm 42.02.02 (POF I, LK 01) Nanoskalige Schichtsysteme u.Oberflächen
Erschienen in Materialwissenschaft und Werkstofftechnik
Verlag Wiley-VCH Verlag
Band 35
Heft 10-11
Seiten 785-793
Nachgewiesen in Web of Science
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