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Comparing grain growth experiments and simulations in 3D in N

Syha, M.; Bäurer, M.; Hoffmann, M. J.; Lauridsen, E. M.; Ludwig, W.; Weygand, D.; Gumbsch, P.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Zuverlässigkeit von Bauteilen und Systemen (IAM-ZBS)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-87-550-3833-2
KITopen-ID: 1000024225
Erschienen in Challenges in materials science and possibilities in 3D and 4D characterization techniques - Proceedings of the 31st Risø International Symposium on Materials Science, Roskilde, Denmark, 6 - 10 September 2010. Ed.: N. Hansen
Verlag Risø National Laboratory for Sustainable Energy
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