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In situ Observations and Quantitative Analysis of Short Circuit Probability Due to Ultrahigh Frequency Fatigue

Eberl, Christoph 1; Riesch-Oppermann, Heinz 2; Spolenak, Ralph; Kubat, Franz; Ruile, Werner; Courty, Diana 1; Kraft, Oliver 2
1 Fakultät für Maschinenbau – Institut für Zuverlässigkeit von Bauteilen und Systemen (IZBS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Meteorologie und Klimaforschung Troposphärenforschung (IMKTRO), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/TDMR.2010.2047945
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Zitationen: 4
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Zitationen: 4
BibTeX (UTF-8) BibTeX (ASCII) EndNote/Refer (.enw) RIS CSL-JSON ISI
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Zuverlässigkeit von Bauteilen und Systemen (IAM-ZBS)
Institut für Materialforschung - Werkstoff- und Biomechanik (IMF2) (IMF2)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1530-4388, 1558-2574
KITopen-ID: 1000024258
HGF-Programm 43.12.03 (POF II, LK 01) Reliability of nanomaterials
Erschienen in IEEE transactions on device and materials reliability
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Band 10
Heft 3
Seiten 366-373
Nachgewiesen in OpenAlex
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