In situ Observations and Quantitative Analysis of Short Circuit Probability Due to Ultrahigh Frequency Fatigue
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Materialien - Zuverlässigkeit von Bauteilen und Systemen (IAM-ZBS) Institut für Materialforschung - Werkstoff- und Biomechanik (IMF2) (IMF2) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2010 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 1530-4388, 1558-2574 KITopen-ID: 1000024258 |
| HGF-Programm | 43.12.03 (POF II, LK 01) Reliability of nanomaterials |
| Erschienen in | IEEE transactions on device and materials reliability |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Band | 10 |
| Heft | 3 |
| Seiten | 366-373 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus Web of Science |