KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Temperature dependence of nanoscale friction investigated with thermal AFM probes

Greiner, C. ORCID iD icon; Felts, J.; Dai, Z.; King, W. P.; Carpick, R. W.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Zuverlässigkeit von Bauteilen und Systemen (IAM-ZBS)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-617-82211-7
ISSN: 0272-9172
KITopen-ID: 1000024312
Erschienen in Mechanochemistry in materials science : November 30 - December 4, 2009, Boston, Massachussetts, USA
Verlag Curran
Seiten 13-20
Serie Materials Research Society symposium proceedings ; 1226
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page