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Submicron Plasticity: Yield Stress, Dislocation Avalanches, and Velocity Distribution

Ispánovity, P. D.; Groma, I.; Györgyi, G.; Csikor, F. F.; Weygand, D. ORCID iD icon 1
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)

Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Zuverlässigkeit von Bauteilen und Systemen (IAM-ZBS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0031-9007
KITopen-ID: 1000024322
Erschienen in Physical Review Letters
Verlag American Physical Society (APS)
Band 105
Heft 8
Seiten 085503/1-4
Nachgewiesen in OpenAlex
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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1103/PhysRevLett.105.085503
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seit 21.05.2018
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