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Atomistic study of structure and stability of thin Ni films on Fe surfaces

Hashibon, A.; Schravendijk, P.; Elsässer, C.; Gumbsch, P.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Zuverlässigkeit von Bauteilen und Systemen (IAM-ZBS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2009
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1478-6435
KITopen-ID: 1000024355
Erschienen in Philosophical Magazine
Verlag Taylor and Francis
Band 89
Heft 34-36
Seiten 3413-3433
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