KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Simulation of small-angle tilt grain boundaries and their response to stress

Cheng, Y.; Weygand, D.; Gumbsch, P.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Zuverlässigkeit von Bauteilen und Systemen (IAM-ZBS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2009
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0927-0256
KITopen-ID: 1000024429
Erschienen in Computational Materials Science
Verlag Elsevier
Band 45
Heft 3
Seiten 783-787
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page