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Stress-Driven Surface Topography Evolution in Nanocrystalline Al Thin Films

Gianola, D.S.; Eberl, C.; Cheng, X. M.; Hemker, K. J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Maschinenbau (MACH)
Institut für Angewandte Materialien - Zuverlässigkeit von Bauteilen und Systemen (IAM-ZBS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2008
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0935-9648
KITopen ID: 1000024440
Erschienen in Advanced Materials
Band 20
Heft 2
Seiten 303-308
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