Stress-Driven Surface Topography Evolution in Nanocrystalline Al Thin Films
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Materialien - Zuverlässigkeit von Bauteilen und Systemen (IAM-ZBS) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2008 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0935-9648 KITopen-ID: 1000024440 |
| Erschienen in | Advanced Materials |
| Verlag | John Wiley and Sons |
| Band | 20 |
| Heft | 2 |
| Seiten | 303-308 |