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Creep deformation mechanisms in fine-grained niobium

Lewis, A. C.; van Heerden, D.; Eberl, C.; Hemker, K. J.; Weihs, T. P.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Zuverlässigkeit von Bauteilen und Systemen (IAM-ZBS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2008
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1359-6462
KITopen ID: 1000024450
Erschienen in Acta Materialia
Band 56
Heft 13
Seiten 3044-3052
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