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Grain growth mechanisms in Bounded Geometries

Weygand, D.; Verdier, M.; Lepinoux, J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Zuverlässigkeit von Bauteilen und Systemen (IAM-ZBS)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2008
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-0-615-24781-6
KITopen ID: 1000024454
Erschienen in Proceedings of the Fourth International Conference on Multiscale Materials Modeling, Tallahassee, Florida, United States, 27-31 October 2008. Ed.: A. El-Azab
Verlag Department of Scientific Computing,Tallahassee
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