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Design and performance of a high-resolution frictional force microscope with quantitative three-dimensional force sensitivity

Dienwiebel, M.; de Kuyper, E.; Crama, L.; Frenken, J. W. M.; Heimberg, J. A.; Spaanderman, D.-J.; Glastra van Loon, D.; Zijlstra, T.; van der Drift, E.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Zuverlässigkeit von Bauteilen und Systemen (IAM-ZBS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2005
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0034-6748
KITopen ID: 1000024510
Erschienen in Review of Scientific Instruments
Band 76
Heft 4
Seiten 043704 /1-7
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