Design and performance of a high-resolution frictional force microscope with quantitative three-dimensional force sensitivity
Dienwiebel, M.
; Kuyper, E. de; Crama, L.; Frenken, J. W. M.; Heimberg, J. A.; Spaanderman, D.-J.; Glastra van Loon, D.; Zijlstra, T.; Drift, E. van der
; Kuyper, E. de; Crama, L.; Frenken, J. W. M.; Heimberg, J. A.; Spaanderman, D.-J.; Glastra van Loon, D.; Zijlstra, T.; Drift, E. van der| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Materialien - Zuverlässigkeit von Bauteilen und Systemen (IAM-ZBS) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2005 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0034-6748 KITopen-ID: 1000024510 |
| Erschienen in | Review of Scientific Instruments |
| Verlag | American Institute of Physics (AIP) |
| Band | 76 |
| Heft | 4 |
| Seiten | 043704 /1-7 |