Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Materialien - Zuverlässigkeit von Bauteilen und Systemen (IAM-ZBS) Institut für Instrumentelle Analytik (IFIA) Institut für Materialforschung (IMF) |
Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
Publikationsjahr | 2004 |
Sprache | Englisch |
Identifikator | ISSN: 1530-4388 KITopen-ID: 1000024518 |
HGF-Programm | 41.06.01 (POF I, LK 01) Werkstoffe und Dünnschichtverfahren |
Erschienen in | IEEE Transactions on Device and Materials Reliability |
Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
Band | 4 |
Heft | 3 |
Seiten | 549 - 555 |
Nachgewiesen in | Dimensions Scopus Web of Science |