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Der verrammelte Notausgang - Lernen vom Bananenblatt!

Mattheck, C.; Kappel, R.; Bethge, K.; Kraft, O.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Zuverlässigkeit von Bauteilen und Systemen (IAM-ZBS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2005
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen ID: 1000024530
Erschienen in Konstruktionspraxis Spezial
Band 2
Seiten 50-52
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