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Temperature dependence of crack propagation in a two-dimensional model quasicrystal

Rudhart, C.; Gumbsch, P.; Trebin, H.-R.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Zuverlässigkeit von Bauteilen und Systemen (IAM-ZBS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2005
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1478-6435
KITopen ID: 1000024535
Erschienen in Philosophical Magazine
Band 85
Heft 28
Seiten 3259-3272
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