Ab initio study of the surface properties and ideal strength of (100) silicon thin films
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Materialien - Zuverlässigkeit von Bauteilen und Systemen (IAM-ZBS) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2005 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0163-1829 KITopen-ID: 1000024537 |
| Erschienen in | Physical Review B |
| Verlag | American Physical Society (APS) |
| Band | 72 |
| Heft | 16 |
| Seiten | 165431/1-7 |