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Ab initio study of the surface properties and ideal strength of (100) silicon thin films

Umeno, Y.; Kushima, A.; Kitamura, T.; Gumbsch, P.; Li, J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Zuverlässigkeit von Bauteilen und Systemen (IAM-ZBS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2005
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0163-1829
KITopen ID: 1000024537
Erschienen in Physical Review B
Band 72
Heft 16
Seiten 165431/1-7
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