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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1557/JMR.2004.0035

Analyzing the mechanical behavior of thin films using nanoindentation, cantilever microbeam deflection, and finite element modeling

Schwaiger, R.; Kraft, O.



Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Maschinenbau (MACH)
Institut für Materialforschung (IMF)
Institut für Angewandte Materialien - Zuverlässigkeit von Bauteilen und Systemen (IAM-ZBS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2004
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0884-2914
KITopen-ID: 1000024562
HGF-Programm 41.03.03 (POF I, LK 01)
Erschienen in Journal of Materials Research
Band 19
Heft 1
Seiten 315-324
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