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Crack Propagation of Silicon by Hybrid Tight-binding Molecular Dynamics

Shibutani, Y.; Hori, N.; Ogata, S.; Gumbsch, P.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Zuverlässigkeit von Bauteilen und Systemen (IAM-ZBS)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2004
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 0-9762064-1-2
KITopen ID: 1000024563
Erschienen in Proceedings of Second International Conference on Multiscale Materials Modeling, Los Angeles, California, October 11 - 15, 2004. Ed.: N. M. Ghoniem
Verlag Mechanical and Aerospace Engineering Dep., Univ. of Calif. Los Angeles (Calif.)
Seiten 144-146
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