Channel cracking of β-NiAl thin films on Si substrates
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Materialien - Zuverlässigkeit von Bauteilen und Systemen (IAM-ZBS) Institut für Materialforschung (IMF) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsdatum | 03.05.2004 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 1359-6454, 1873-2453 KITopen-ID: 1000024567 |
| HGF-Programm | 41.03.02 (POF I, LK 01) Mikrostrukturapparate |
| Erschienen in | Acta materialia |
| Verlag | Elsevier |
| Band | 52 |
| Heft | 8 |
| Seiten | 2325-2336 |
| Vorab online veröffentlicht am | 26.02.2004 |
| Nachgewiesen in | Web of Science Dimensions Scopus |