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Semi-external LTL model checking

Edelkamp, S.; Sanders, P.; Simecek, P.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Theoretische Informatik (ITI)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2008
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 3-540-70543-0
ISSN: 0302-9743
KITopen ID: 1000025375
Erschienen in Computer aided verification: Proceedings of the 20th International Conference (CAV 2008), Princeton, NJ, USA, July 7-14, 2008. Ed.: A. Gupta
Verlag Springer, Berlin
Seiten 530-542
Serie Lecture notes in computer science ; 5123
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