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Pansharpening - Relating Quantitative Quality Measures to Impact on Results of Subsequent Processing Steps

Weidner, U.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Photogrammetrie und Fernerkundung (IPF)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1682-1777
KITopen-ID: 1000025515
Erschienen in ISPRS Technical Commission VII Symposium '100 Years ISPRS' Advancing Remote Sensing Science, Vienna, Austria, July 5-7, 2010. Ed.: W. Wagner
Verlag University of Technology, Vienna
Seiten 287-292
Serie International Archives of the Photogrammetry, Remote Sensing and Spatial Information Sciences ; XXXVIII, 7A
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