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3D Analysis of Scattering Effects Based on Ray-tracing Techniques

Auer, S.; Zhu, X.; Hinz, S.; Bamler, R.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Photogrammetrie und Fernerkundung (IPF)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2009
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-4244-3394-0
KITopen-ID: 1000025686
Erschienen in 2009 IEEE International Geoscience and Remote Sensing Symposium (IGARSS 2009), Cape Town, South Africa, 12 - 17 July 2009
Verlag IEEE, Picataway (NJ)
Seiten III/17-20
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