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Ray Tracing and SAR-Tomography for 3D Analysis of Microwave Scattering at Man-Made Objects

Auer, S.; Zhu, X.; Hinz, S.; Bamler, R.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Photogrammetrie und Fernerkundung (IPF)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2009
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1682-1750
KITopen-ID: 1000025687
Erschienen in International Archives of Photogrammetry, Remote Sensing and Spatial Information Sciences
Band 38
Heft 3 / W4
Seiten 157-162
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