KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

A Standard Free Pressure Calibration Using Simultanious XRD and Elastic Property Measurements in a Multi-Anvil Device

Mueller, H. J.; Schilling, F. R.; Lauterjung, J.; Lathe, C.

Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Geowissenschaften (AGW)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2003
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0935-1221
KITopen-ID: 1000026169
Erschienen in European Journal of Mineralogy
Verlag Copernicus Publications
Band 15
Heft 5
Seiten 865 - 874

Seitenaufrufe: 121
seit 29.04.2018
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page