Abstände mikrometergenau bestimmen

Ayhan, S.; Christian, R.; Scherr, S.; Zwick, T.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Hochfrequenztechnik und Elektronik (IHE)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr	2011
Sprache	Deutsch
Identifikator	ISSN: 1869-2117 KITopen-ID: 1000026248
Erschienen in	E&E Kompendium
Band	2012
Seiten	268-271