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Abstände mikrometergenau bestimmen

Ayhan, S.; Christian, R.; Scherr, S.; Zwick, T.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Hochfrequenztechnik und Elektronik (IHE)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2011
Sprache Deutsch
Identifikator ISSN: 1869-2117
KITopen ID: 1000026248
Erschienen in E&E Kompendium 2012
Seiten 268-271
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