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Volltext
URN: urn:nbn:de:swb:90-264035
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/BTAS.2009.5339076

Face Alignment by Minimizing the Closest Classification Distance

Ekenel, Hazim K.; Stiefelhagen, Rainer



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Anthropomatik (IFA)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2009
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-4244-5019-0

KITopen-ID: 1000026403
Erschienen in 2009 IEEE 3rd International Conference on Biometrics: Theory, Applications and Systems : BTAS 2009, Washington, DC, USA, 28 - 30 September 2009
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten 6 S.
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