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Spektrale Bandselektion für das Filterdesign optischer Inspektionssysteme

Michelsburg, M.; Gruna, R.; Vieth, K.-U.; Puente León, F.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Anthropomatik (IFA)
Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2011
Sprache Deutsch
Identifikator ISSN: 0178-2312
KITopen ID: 1000026482
Erschienen in tm - Technisches Messen
Band 78
Heft 9
Seiten 384-390
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