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Lineare Deflektometrie - Regularisierung und experimentelles Design

Balzer, J.; Werling, S.; Beyerer, J.


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1524/teme.2011.0078
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Zitationen: 1
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Zitationen: 1
Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Informatik – Institut für Anthropomatik (IFA)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2011
Sprache Deutsch
Identifikator ISSN: 0178-2312
KITopen-ID: 1000026487
Erschienen in tm - Technisches Messen
Verlag De Gruyter
Band 78
Heft 1
Seiten 43-50
Nachgewiesen in Dimensions
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