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Lineare Deflektometrie - Regularisierung und experimentelles Design

Balzer, J.; Werling, S.; Beyerer, J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Anthropomatik (IFA)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2011
Sprache Deutsch
Identifikator ISSN: 0178-2312
KITopen ID: 1000026487
Erschienen in tm - Technisches Messen
Band 78
Heft 1
Seiten 43-50
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