Glänzende Einsichten - Deflektometrie schließt Lücke bei der Inspektion spiegelnder Oberflächen
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Informatik – Institut für Anthropomatik (IFA) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2010 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | ISSN: 0936-692X KITopen-ID: 1000026522 |
| Erschienen in | Industrial Vision |
| Verlag | Vereinigte Fachverl. |
| Heft | 4 |
| Seiten | 42-43 |