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Inspection of Specular and Partially Specular Surfaces

Werling, S.; Mai, M.; Heizmann, M.; Beyerer, J.


Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Informatik – Institut für Anthropomatik (IFA)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2009
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0860-8229
KITopen-ID: 1000026542
Erschienen in Metrology and Measurement Systems
Verlag De Gruyter
Band 16
Heft 3
Seiten 415-431
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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