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Elektrische Charakterisierung und Modellierung von metallischen Interkonnektoren (MIC) des SOFC-Stacks

Kornely, Michael

Abstract:
In dieser Arbeit wurde der Effekt des metallischen Interkonnektors (MIC) auf die Leistungsdichte der anodengestützten Zelle (ASC) sowie die Wechselwirkung zwischen dem MIC und der Kathode (Cr-Vergiftung) untersucht. Durch die Separation der Elektrodenverluste wurden drei von der Geometrie verursachte Verluste identifiziert und quantifiziert. Weiter konnte gezeigt werden, dass in Anwesenheit des MIC eine starke Degradation der Zellleistung durch Cr-Vergiftung der Kathoden-Elektrochemie stattfand.

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Volltext §
DOI: 10.5445/KSP/1000027170
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Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Werkstoffe der Elektrotechnik (IWE)
Publikationstyp Hochschulschrift
Publikationsjahr 2012
Sprache Deutsch
Identifikator ISBN: 978-3-86644-833-9
ISSN: 1868-1603
urn:nbn:de:0072-271707
KITopen-ID: 1000027170
Verlag KIT Scientific Publishing
Umfang V, 166 S.
Serie Schriften des Instituts für Werkstoffe der Elektrotechnik, Karlsruher Institut für Technologie / Institut für Werkstoffe der Elektrotechnik ; 22
Art der Arbeit Dissertation
Fakultät Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik (ETIT)
Institut Institut für Werkstoffe der Elektrotechnik (IWE)
Prüfungsdaten 02.02.2012
Referent/Betreuer Prof. E. Ivers-Tiffée
Schlagwörter Cr-Vergiftung metallischer Interkonnektor (MIC) anodengestützte Zelle (ASC) Hochtemperatur Brennstoffzelle (SOFC) APU Stack
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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