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X-ray grating interferometer for materials-science imaging at a low-coherent wiggler source

Herzen, J.; Donath, T.; Beckmann, F.; Ogurreck, M.; David, C.; Mohr, J. 1; Pfeiffer, F.; Schreyer, A.
1 Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1063/1.3662411
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Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Institut für Organische Chemie (IOC)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0034-6748
KITopen-ID: 1000027306
HGF-Programm 43.14.02 (POF II, LK 01) X-Ray-Optics
Erschienen in Review of Scientific Instruments
Verlag American Institute of Physics (AIP)
Band 82
Heft 11
Seiten 113711/1-6
Nachgewiesen in Dimensions
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