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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1063/1.3662411
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Zitationen: 19
Web of Science
Zitationen: 16

X-ray grating interferometer for materials-science imaging at a low-coherent wiggler source

Herzen, J.; Donath, T.; Beckmann, F.; Ogurreck, M.; David, C.; Mohr, J.; Pfeiffer, F.; Schreyer, A.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Institut für Organische Chemie (IOC)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0034-6748
KITopen ID: 1000027306
HGF-Programm 43.14.02; LK 01
Erschienen in Review of Scientific Instruments
Band 82
Heft 11
Seiten 113711/1-6
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