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Electric field induced dynamics of charged species in metal oxide devices: diffusion equation analysis

Kiselev, I.; Sommer, M.; Sysoev, V. V.; Skorokhodov, S. L.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Institut für Organische Chemie (IOC)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0031-8965, 1521-396X, 1862-6300, 1862-6319
KITopen ID: 1000027308
HGF-Programm 43.12.01; LK 01
Erschienen in Physica status solidi / A
Band 208
Heft 12
Seiten 2889-2899
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