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High resolution, large field of view x-ray differential phase contrast imaging on a compact setup

Thuering, T.; Modregger, P.; Grund, T.; Kenntner, J.; David, C.; Stampanoni, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Institut für Organische Chemie (IOC)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0003-6951
KITopen ID: 1000027323
HGF-Programm 43.14.02; LK 01
Erschienen in Applied Physics Letters
Band 99
Heft 4
Seiten 041111/1-3
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