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Quantitative phase and absorption tomography with an X-ray grating interferometer and synchrotron radiation

Zanette, I.; Weitkamp, T.; Lang, S.; Langer, M.; Mohr, J. 1; David, C.; Baruchel, J.
1 Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1002/pssa.201184276
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Zitationen: 39
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Zitationen: 36
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Institut für Organische Chemie (IOC)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0031-8965, 1521-396X, 1862-6300, 1862-6319
KITopen-ID: 1000027329
HGF-Programm 43.14.02 (POF II, LK 01) X-Ray-Optics
Erschienen in Physica status solidi / A
Verlag John Wiley and Sons
Band 208
Heft 11
Seiten 2526-2532
Nachgewiesen in Scopus
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