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A low-wavenumber-extended confocal Raman microscope with very high laser excitation line discrimination

Lebedkin, S.; Blum, C.; Stürzl, N.; Hennrichand, F.; Kappes, M. M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Institut für Physikalische Chemie (IPC)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0034-6748
KITopen ID: 1000027475
HGF-Programm 43.11.03; LK 01
Erschienen in Review of Scientific Instruments
Band 82
Heft 1
Seiten 1-6
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