Effizienter Regressionstest von E/E-Systemen nach ISO 26262
Abstract:
Selektive Regressionstestmethodiken analysieren auf Basis einer auf eine Systemdarstellung abgebildeten Modifikation, welche Testfälle für eine systematische Überprüfung der Änderung selbst sowie aller potentiellen durch eine mögliche Fehlwirkung betroffenen Teilbereiche des Systems notwendig sind. Im Rahmen dieser Arbeit wird erstmals eine effiziente und spezifikationsbasierte Regressionstestmethodik nach ISO 26262 für die E/E-Systemebene entwickelt.
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV) |
| Publikationstyp | Hochschulschrift |
| Publikationsjahr | 2012 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | ISBN: 978-3-86644-842-1 ISSN: 2191-4737 urn:nbn:de:0072-274987 KITopen-ID: 1000027498 |
| Verlag | KIT Scientific Publishing |
| Umfang | IX, 235 S. |
| Serie | Steinbuch Series on Advances in Information Technology / Karlsruher Institut für Technologie, Institut für Technik der Informationsverarbeitung ; 3 |
| Art der Arbeit | Dissertation |
| Fakultät | Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik (ETIT) |
| Institut | Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV) |
| Prüfungsdaten | 15.02.2012 |
| Schlagwörter | Test, Regressionstest, ISO 26262, Teststrategie |
| Nachgewiesen in | OpenAlex |
| Referent/Betreuer | Müller-Glaser, K. |