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DOI: 10.5445/KSP/1000027498
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Effizienter Regressionstest von E/E-Systemen nach ISO 26262

Nörenberg, Ralf

Abstract:
Selektive Regressionstestmethodiken analysieren auf Basis einer auf eine Systemdarstellung abgebildeten Modifikation, welche Testfälle für eine systematische Überprüfung der Änderung selbst sowie aller potentiellen durch eine mögliche Fehlwirkung betroffenen Teilbereiche des Systems notwendig sind. Im Rahmen dieser Arbeit wird erstmals eine effiziente und spezifikationsbasierte Regressionstestmethodik nach ISO 26262 für die E/E-Systemebene entwickelt.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV)
Publikationstyp Hochschulschrift
Jahr 2012
Sprache Deutsch
Identifikator ISBN: 978-3-86644-842-1
ISSN: 2191-4737
URN: urn:nbn:de:0072-274987
KITopen ID: 1000027498
Verlag KIT Scientific Publishing, Karlsruhe
Umfang IX, 235 S.
Serie Steinbuch Series on Advances in Information Technology / Karlsruher Institut für Technologie, Institut für Technik der Informationsverarbeitung ; 3
Abschlussart Dissertation
Fakultät Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik (ETIT)
Institut Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV)
Prüfungsdaten 15.02.2012
Referent/Betreuer Prof. K. Müller-Glaser
Schlagworte Test, Regressionstest, ISO 26262, Teststrategie
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