Investigation of NBTI and PBTI induced aging in different LUT implementations
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2011 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-4577-1740-6 KITopen-ID: 1000028021 |
| Erschienen in | 2011 International Conference on Field-Programmable Technology, 12-14 Dec. 2011, New Delhi, India. Ed.: M. Balakrishnan |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 1-8 |