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Numerical Defect Correction as an Algorithm-Based Fault Tolerance Technique for Iterative Solvers

Oboril, F.; Tahoori, M. B.; Heuveline, V.; Lukarski, D.; Weiss, J. P.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-0-7695-4590-5
KITopen ID: 1000028022
Erschienen in Dependable Computing (PRDC), 2011 IEEE 17th Pacific Rim International Symposium on, 12-14 Dec. 2011, Pasadena, California, USA. Ed.: L. Alkalai
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten 144 - 153
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