Numerical Defect Correction as an Algorithm-Based Fault Tolerance Technique for Iterative Solvers

Oboril, F.; Tahoori, M. B.; Heuveline, V.; Lukarski, D.; Weiss, J. P.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp	Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr	2011
Sprache	Englisch
Identifikator	ISBN: 978-0-7695-4590-5 KITopen-ID: 1000028022
Erschienen in	Dependable Computing (PRDC), 2011 IEEE 17th Pacific Rim International Symposium on, 12-14 Dec. 2011, Pasadena, California, USA. Ed.: L. Alkalai
Verlag	Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten	144 - 153