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Online Missing/Repeating Gate Faults Detection in Reversible Circuits

Zamani, M.; Tahoori, M. B.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-0-7695-4556-1
KITopen ID: 1000028023
Erschienen in Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT), 2011 IEEE International Symposium on, 3-5 October 2011, Vancouver, B.C. Canada Los Alamitos. Ed.: G. Chapman
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten 435 - 442
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