Online Missing/Repeating Gate Faults Detection in Reversible Circuits
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2011 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-0-7695-4556-1 KITopen-ID: 1000028023 |
| Erschienen in | Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT), 2011 IEEE International Symposium on, 3-5 October 2011, Vancouver, B.C. Canada Los Alamitos. Ed.: G. Chapman |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 435 - 442 |