Soft error rate estimation of digital circuits in the presence of Multiple Event Transients (METs)

Fazeli, Mahdi; Ahmadian, Seyed Nematollah; Miremadi, Seyed Ghassem; Asadi, Hossein; Tahoori, Mehdi Baradaran

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp	Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr	2011
Sprache	Englisch
Identifikator	ISBN: 978-1-61284-208-0 KITopen-ID: 1000028025
Erschienen in	Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2011, Grenoble, France, March 14-18, 2011. Ed.: K. Preas
Verlag	Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten	70-75