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Soft error rate estimation of digital circuits in the presence of Multiple Event Transients (METs)

Fazeli, Mahdi; Ahmadian, Seyed Nematollah; Miremadi, Seyed Ghassem; Asadi, Hossein; Tahoori, Mehdi Baradaran



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-61284-208-0
KITopen ID: 1000028025
Erschienen in Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2011, Grenoble, France, March 14-18, 2011. Ed.: K. Preas
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten 70-75
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