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Fast and Accurate Soft Error Rate Estimation at RTL level

Chen, L.; Firouzi, F.; Kiamehr, S.; Tahoori, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-3-8007-3357-6
KITopen ID: 1000028028
Erschienen in Zuverlässigkeit und Entwurf - 5. GI/GMM/ITG-Fachtagung, Hamburg-Harburg, Deutschland, 27.09.2011 - 29.09.2011
Verlag VDE, Müchen
Seiten 124-125
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