Fault Masking and Diagnosis in Reversible Circuits
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2011 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-0-7695-4433-5 KITopen-ID: 1000028031 |
| Erschienen in | European Test Symposium (ETS), 2011 16th IEEE, 23-27 May 2011, Trondheim, Norway. Ed.: E. J. Aas |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 69 - 74 |