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Fault Masking and Diagnosis in Reversible Circuits

Zamani, M.; Farazmand, N.; Tahoori, M. B.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-0-7695-4433-5
KITopen ID: 1000028031
Erschienen in European Test Symposium (ETS), 2011 16th IEEE, 23-27 May 2011, Trondheim, Norway. Ed.: E. J. Aas
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten 69 - 74
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