Self-Immunity Technique to Improve Register File Integrity Against Soft Errors
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2011 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-0-7695-4348-2 KITopen-ID: 1000028038 |
| Erschienen in | Conference on VLSI Design (VLSI Design), 2011 24th International, 2-7 January 2011, IIT Madras, Chennai, India. Ed.: N. Chandrachoodan |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 189-194 |
| Nachgewiesen in | Dimensions |