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Self-Immunity Technique to Improve Register File Integrity Against Soft Errors

Amrouch, Hussam; Henkel, Joerg



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-0-7695-4348-2
KITopen ID: 1000028038
Erschienen in Conference on VLSI Design (VLSI Design), 2011 24th International, 2-7 January 2011, IIT Madras, Chennai, India. Ed.: N. Chandrachoodan
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten 189-194
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