Online fault testing of reversible logic using dual rail coding
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2010 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-4244-7724-1 KITopen-ID: 1000028072 |
| Erschienen in | 16th IEEE International On-Line Testing Symposium (IOLTS 2010), 5-7 July, 2010, Corfu, Greece |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 204-205 |