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Online fault testing of reversible logic using dual rail coding

Farazmand, N.; Zamani, M.; Tahoori, M. B.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-4244-7724-1
KITopen-ID: 1000028072
Erschienen in 16th IEEE International On-Line Testing Symposium (IOLTS 2010), 5-7 July, 2010, Corfu, Greece
Verlag IEEE, Piscataway
Seiten 204-205
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